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Silizium-Halbleitertechnologie: Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik

Ulrich Hilleringmann (auth.)
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Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 10 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Lehrbuch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik.

Категорії:
Рік:
2014
Видання:
6
Видавництво:
Springer Vieweg
Мова:
german
Сторінки:
263
ISBN 10:
3834820857
ISBN 13:
9783834820853
Файл:
PDF, 13.88 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
german, 2014
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